GW-4040型XRF岩屑元素分析仪

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位．因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。