国产半导体参数分析仪iv+cv曲线测试仪

详情描述：

SPA6100型国产半导体参数分析仪iv cv曲线测试仪1200V/100A，一键执行测试，超高性价比！模块化集成设计，配置多种不同规格的SMU，可同时进行直流I-V、超快脉冲式I-V、C-V      测试，帮助你实现测试效率与开支的平衡！详询一八一四零六六三四七六
 

产品特点
30μV-1200V，1pA-100A 宽量程测试能力
测量精度高，全量程下可达0.03%
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便 
自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线
供灵活的夹具定制方案，兼容性强
免费提供上位机软件及SCPI指令集

应用场景及测试参数
纳米材料：电阻率、载流子迁移率、载流子浓度、霍尔电压
柔性材料：拉伸/扭转/弯折、V-t、I-t、R-t、电阻率、灵敏度
IC芯片：O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O  Pin IV曲线
分立器件：BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、输出/转移/CV曲线等
光电探测器：暗电流ID、结电容Ct、反向击穿电压VBR、响应度R
钙钛矿电池：VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh
LD/LED/OLED：Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲线
传感器/忆阻器：V-t、I-t、R-t、直流/脉冲/交流IV测试

特色优势
模块化配置：可灵活配置多种测量单元，预留升级空间，方便后期升级
图形化界面：内置常用器件模板，可直接调用，并且支持输出三种模式测试报告
自动化测试：内嵌低漏电矩阵开关，可自动切换测试电路，实现一键测试功能
夹具可定制：支持二极管、三极管、Si及SiC  MOS管、IGBT等器件
多设备联动：可与探针台、温控模块等搭配使用，温控范围：室温~250℃